計測分析技術交流広場を初期の頃から閲覧にさせてもらっているものです。今までは、シリコンデバイスの開発に従事していたのですが、少し前から、パワーデバイス、MEMS、TSVなどの開発に従事しています。ここに記載されている計測分析技術を参考にさせていただこうと、このサイトを訪れるのですが、どの計測分析技術が適用できるか不徳の致すところでよくわかりません。
最近、「故障解析」や「計測分析技術一覧」とか「説明ページ？」がアップデートされていない（昔は、年に数回アップデートがあったように思うのですが・・・。）ので、それらを参考にしようとしても、思うような情報に行き着きません。「故障解析」や「計測分析技術一覧」とか「説明ページ」は、とても参考になるので、できれば More　Than　Mooreをターゲットにした計測分析技術も加えていただければ、ありがたいと考えています。勝手な言い分で申し訳ありません。（乱筆乱文お許しください。）

ご意見有り難うございます。
我々の間でも、本サイトの運営をナノエレ分析研究会に移すに際して、対象とする分野を広げていこうという話は出ておりました。なかなか、手が回っておりませんが、徐々に、ナノエレ、パワエレ、MEMS等の分野もスコープに入れたサイトにしていければと思っております。
今後とも、TSCをよろしくお願いいたします。