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| [2256] Re:GaNの結晶欠陥 | 2012-01-28 10:05:17 |
| お名前 : TEM担当 [ホームページ] | カテゴリー : 【計測分析技術の話題】【計測分析技術】 |
http://www.eaglabs.com/files/appnotes/AN463.pdfにSTEMで欠陥の種別を結果があります。このようにSTEMでもTEMと同様に欠陥の種別を評価できるのでしょうか。 |
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| 題名 | お名前 | 投稿日付 | No. | カテゴリー |
| ★ GaNの結晶欠陥 | プロセス担当 | 2012-01-21 14:56:01 | 2252 | 計測分析技術 |
| └ Re:GaNの結晶欠陥 | chikutak | 2012-01-25 09:48:17 | 2253 | |
| └ Re:GaNの結晶欠陥 | プロセス担当 | 2012-01-26 10:37:05 | 2254 | |
| └ Re:GaNの結晶欠陥 | 解析担当 | 2012-01-26 23:48:53 | 2255 | |
| └ Re:GaNの結晶欠陥 | TEM担当 | 2012-01-28 10:05:17 | 2256 |
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