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[2256] Re:GaNの結晶欠陥 2012-01-28 10:05:17
お名前 : TEM担当 [ホームページ] カテゴリー : 【計測分析技術の話題】【計測分析技術
http://www.eaglabs.com/files/appnotes/AN463.pdfにSTEMで欠陥の種別を結果があります。このようにSTEMでもTEMと同様に欠陥の種別を評価できるのでしょうか。
 
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題名 お名前 投稿日付 No. カテゴリー
 GaNの結晶欠陥 プロセス担当 2012-01-21 14:56:01 2252 計測分析技術
  └ Re:GaNの結晶欠陥 chikutak 2012-01-25 09:48:17 2253  
    └ Re:GaNの結晶欠陥 プロセス担当 2012-01-26 10:37:05 2254  
      └ Re:GaNの結晶欠陥 解析担当 2012-01-26 23:48:53 2255  
  └ Re:GaNの結晶欠陥 TEM担当 2012-01-28 10:05:17 2256  


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