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[2255] Re:GaNの結晶欠陥 2012-01-26 23:48:53
お名前 : 解析担当 [ホームページ] カテゴリー : 【計測分析技術の話題】【計測分析技術
 下記ではSTEMでの結晶欠陥が報告されています。
http://www.csmantech.org/Digests/2011/papers/6b.3.pdf
自分自身で評価したことはないですが、TEMと同様に薄膜試料が必要ですが、STEMの方が観察は楽ではないかと思います。

 
 
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題名 お名前 投稿日付 No. カテゴリー
 GaNの結晶欠陥 プロセス担当 2012-01-21 14:56:01 2252 計測分析技術
  └ Re:GaNの結晶欠陥 chikutak 2012-01-25 09:48:17 2253  
    └ Re:GaNの結晶欠陥 プロセス担当 2012-01-26 10:37:05 2254  
      └ Re:GaNの結晶欠陥 解析担当 2012-01-26 23:48:53 2255  
  └ Re:GaNの結晶欠陥 TEM担当 2012-01-28 10:05:17 2256  


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