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[2253] Re:GaNの結晶欠陥 | 2012-01-25 09:48:17 |
お名前 : chikutak [ホームページ] | カテゴリー : 【計測分析技術の話題】【計測分析技術】 |
GaN結晶中の欠陥の種類で、一般的によく言われているのは、刃状転位、らせん転位とそれらが混合したものです。欠陥の種類と密度の両方が電気特性に影響を与えており、どれが影響を与えているかを特定するのはなかなか難しいです。 |
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題名 | お名前 | 投稿日付 | No. | カテゴリー |
★ GaNの結晶欠陥 | プロセス担当 | 2012-01-21 14:56:01 | 2252 | 計測分析技術 |
└ Re:GaNの結晶欠陥 | chikutak | 2012-01-25 09:48:17 | 2253 | |
└ Re:GaNの結晶欠陥 | プロセス担当 | 2012-01-26 10:37:05 | 2254 | |
└ Re:GaNの結晶欠陥 | 解析担当 | 2012-01-26 23:48:53 | 2255 | |
└ Re:GaNの結晶欠陥 | TEM担当 | 2012-01-28 10:05:17 | 2256 |
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