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| [2252] GaNの結晶欠陥 | 2012-01-21 14:56:01 |
| お名前 : プロセス担当 [ホームページ] | カテゴリー : 【計測分析技術の話題】【計測分析技術】 |
GaN結晶では結晶欠陥の種類によって電気特性への影響に違いがあるようなのですが、どのような結晶欠陥の影響が大きいのでしょうか？また、結晶欠陥の種類を見分けるには、どのような手法はあるのでしょうか。 |
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| 題名 | お名前 | 投稿日付 | No. | カテゴリー |
| ★ GaNの結晶欠陥 | プロセス担当 | 2012-01-21 14:56:01 | 2252 | 計測分析技術 |
| └ Re:GaNの結晶欠陥 | chikutak | 2012-01-25 09:48:17 | 2253 | |
| └ Re:GaNの結晶欠陥 | プロセス担当 | 2012-01-26 10:37:05 | 2254 | |
| └ Re:GaNの結晶欠陥 | 解析担当 | 2012-01-26 23:48:53 | 2255 | |
| └ Re:GaNの結晶欠陥 | TEM担当 | 2012-01-28 10:05:17 | 2256 |
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