« 戻る RSS
技術交流掲示板
- ナノエレクトロニクス計測分析技術研究会トップへ -

[2209] Re:ヘリウムイオン顕微鏡についての質問 2011-09-28 14:10:14
お名前 : Non [ホームページ] カテゴリー : 【計測分析技術の話題】【計測分析技術
装置としてなぜ微調整の機構が付いていないかは不明ですが、叩く動作は、Source Tipの先端に吸着したプローブとなるHeイオンを一つだけ取り出すためにSource Tipの傾きの微調整を行う作業のようです。測定中に叩き続けている訳ではないようです。

>ヘリウムイオン顕微鏡について知識がなく申し訳ないのですが、「研究者の方がイオン銃をたたいて原子を移動」とはどのような事なのでしょうか。真空装置をたたくということは考えられないのですが。
 
パスワード :


list

題名 お名前 投稿日付 No. カテゴリー
 ヘリウムイオン顕微鏡についての質問 FIBオペレーター 2011-09-15 21:43:58 2207 計測分析技術
  └ Re:ヘリウムイオン顕微鏡についての質問 解析担当 2011-09-16 23:30:50 2208  
    └ Re:ヘリウムイオン顕微鏡についての質問 Non 2011-09-28 14:10:14 2209  
      └ Re:ヘリウムイオン顕微鏡についての質問 FIBオペレーター 2011-10-19 21:36:56 2210  


返信フォーム

お名前
メールアドレス
ホームページ
設置先
題名
メッセージ
  ファイルアップロードは1000kbまで可能です。
ファイル1 ファイル1へ添付可能なファイルは、 .txt .zip .lzh です。
ファイル2 ファイル2へ添付可能なファイルは、 .jpg .gif .png です。
パスワード
解決!! 解決した場合はチェックを入れてください。