索引 | 計測分析技術基本マップ | 計測分析技術逆引きマップ | 計測分析技術一覧 | 略号対応表へ | ホーム
※現在、Google Chromeでご覧になると、スクロール時に表がずれる場合があります。ご注意ください。
カテゴリー | 分析手法 | 収束電子線回折法 | カソードルミネッセンス法 | 光学顕微鏡法 | フォトルミネッセンス法 | 走査透過電子顕微鏡法 | 透過電子顕微鏡法 | X線回折トポグラフ法 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
元素分析 | 元素マッピング | |||||||
元素分析 | 組成分析 | ● | ● | |||||
元素分析 | 元素分析 | |||||||
元素分析 | 不純物分析 | |||||||
元素分析 | イオン分析 | |||||||
元素分析 | 分子分析 | |||||||
元素分析 | 粒子分析 | |||||||
元素分析 | 分子運動 | |||||||
元素分析 | ガス脱離 | |||||||
形状観察 | 形状観察 | ● | ● | ● | ||||
形状観察 | 膜厚 | ● | ||||||
形状観察 | 表面分析 | ● | ||||||
形状観察 | 段差測定 | ● | ||||||
形状観察 | 内部構造観察 | ● | ||||||
結晶観察 | 結晶構造 | |||||||
結晶観察 | 結晶対称性 | ● | ||||||
結晶観察 | 結晶性 | ● | ● | |||||
結晶観察 | 格子定数 | |||||||
結晶観察 | 粒界観察 | ● | ||||||
結晶観察 | 結晶欠陥 | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
結晶観察 | 欠陥観察 | ● | ||||||
結晶観察 | 転位密度 | ● | ||||||
結晶観察 | 空孔分析 | |||||||
結晶観察 | ダメージ | |||||||
結晶観察 | 配向性 | |||||||
結晶観察 | 結晶方位 | |||||||
結晶観察 | 密度 | |||||||
結晶観察 | 歪 | ● | ● | |||||
結晶観察 | 応力 | |||||||
電気特性評価 | PNジャンクション位置 | |||||||
電気特性評価 | 空乏層 | |||||||
電気特性評価 | 抵抗率分布 | |||||||
電気特性評価 | キャリア分析 | ● | ||||||
電気特性評価 | ホットキャリアの位置 | |||||||
電気特性評価 | ポテンシャル | |||||||
電気特性評価 | 不良位置特定 | |||||||
電気特性評価 | 配線欠陥 | |||||||
電気特性評価 | 閾値電圧 | |||||||
電気特性評価 | 電気特性 | |||||||
物質特性評価 | 光学定数 | |||||||
物質特性評価 | バンド構造 | ● | ||||||
物質特性評価 | 仕事関数 | |||||||
物質特性評価 | 化学結合 | |||||||
物質特性評価 | 電子状態 | |||||||
物質特性評価 | 発光準位 | ● | ||||||
物質特性評価 | 発光箇所 | |||||||
物質特性評価 | 再結合中心準位 | ● | ||||||
物質特性評価 | 励起子情報 | ● | ||||||
物質特性評価 | スピン |