3 |
3次元アトムプローブ法
(3 Dimensional Atom Probe)
3DAP
|
|
|
あ |
3次元アトムプローブ法
(3 Dimensional Atom Probe)
3DAP
|
|
|
い |
イオンクロマトグラフ法 (Ion Chromatography)
IC
|
イオンミリング法 (Ion Milling Method)
IM
|
|
え |
X線回折トポグラフ法 (X-ray Diffraction Topography)
XRT
|
X線回折法 (X-ray Diffraction)
XRD
|
X線散漫散乱法 (X-ray Diffuse Scattering)
XDS
|
X線吸収微細構造法 (X-ray Absorption Fine Structure)
XAFS
|
X線反射率分析法 (X-ray Reflectometry Analysis)
XRR
|
X線光電子分光法 (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
XPS
|
X線ロッキングカーブ法 (X-ray Rocking Curve)
XRC
|
エネルギー分散X線分光法 (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)
EDX, EDS
|
エミッシヨン顕微鏡法 (Photo Emission Microscopy)
PEM
|
エリプソメトリ法 (Ellipsometry),
分光エリプソメトリ法 (Spectroscopic Ellipsometry)
EM, SE
|
|
|
お |
オージェ電子分光法 (Auger Electron Spectroscopy)
AES, SAM
|
|
|
か |
角度分解X線励起光電子分光法 (Angle Resolved X-ray Photoelectron Spectroscopy)
ARXPS
|
角度分解オージェ電子分光法 (Angle-resolved Auger Electron Spectroscopy)
ARAES
|
ガスクロマトグラフ質量分析法 (Gas Chromatography/Mass Spectrometry)
GC/MS
|
カソードルミネッセンス法 (Cathodeluminescence Spectroscopy)
CL
|
|
|
き |
共焦点顕微鏡とデコンボルーション (Confocal Microscopy & Deconvolution)
|
共焦点走査型レーザー顕微鏡法 (Confocal Laser Scanning Microscopy), 共焦点顕微鏡法 (Confocal Microscopy)
CLSM, CMS
|
|
く |
グロー放電質量分析法 (Glow Discharge Mass Spectrometry)
GDMS
|
グロー放電発光分光分析法 (Glow Discharge Optical Emission Spectrometry, Glow Discharge Spectroscopy)
GD-OES, GDS
|
|
け |
蛍光X線分析法 (X-ray Fluorescence Analysis, Fluorescent X-ray Analysis)
XRF
|
原子間力顕微鏡 (Atomic Force Microscope)
AFM
|
原子吸光分光分析法 (Atomic Absorption Spectrometry)
AAS
|
こ |
構造化照明顕微鏡 (Structured Illumination Microscope)
SIM
|
光学顕微鏡法 (Optical Microscopy)
OM
|
固体核磁気共鳴分析法 (Solid-state Nuclear Magnetic Resonance Spectroscopy)
Solid-state NMR
|
し |
紫外線光電子分光法 (Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy)
UPS
|
収差補正 TEM / STEM (Aberration-corrected TEM and STEM imaging)
Cs-corrected TEM/STEM
|
集束イオンビーム法 (Focused Ion Beam)
FIB
|
収束電子線回折法 (Convergent Beam Electron Diffraction)
CBED
|
昇温脱離ガス分光法 (Thermal Desorption Spectrometry, Temperature Programmed Desorption)
TDS, TDP
|
触針法 (Stylus Method)
|
す |
スピニングディスクタイプの超解像顕微鏡 (Spinning Disc type - super resolution microscope)
|
|
|
せ |
赤外レーザ照射加熱抵抗変化検出法 (Infrared Optical Beam Induced Resistance Change)
IR-OBIRCH
|
全反射蛍光X線分析法 (Total Reflection X-ray Fluorescence, Total Reflection X-ray Fluorescence Method)
TXRF
|
|
そ |
走査型静電容量顕微鏡法 (Scanning Capacitance Microscopy)
SCM
|
走査型電子顕微鏡法 (Scanning Electron Microscopy)
SEM
|
走査型拡がり抵抗顕微鏡法 (Scanning Spreading Resistance Microscopy)
SSRM
|
走査型プローブ顕微鏡法 (Scanning Probe Microscopy)
SPM
|
走査透過電子顕微鏡法 (Scanning Transmission Electron Microscopy)
STEM
|
走査型トンネル顕微鏡法 (Scanning Tunneling Mircroscopy)
STM
|
ち |
ラザフォード後方散乱分析法 (Rutherford Backscattering Spectrometry) 中速イオン散乱分光法 (Medium Energy Ion Scattering Spectroscopy) (High-Resolution Rutherford Backscattering Spectrometry)
RBS, MEIS(HR-RBS)
|
超解像光学顕微鏡 (Super Resolution Microscope)
SRM
|
|
て |
電圧印加型電子ビーム吸収電流法 (Voltage Applied Electron Beam Absorbed Current Method)
VA EBAC
|
低速電子線回折法 (Low Energy Electron Diffraction Method)
LEED
|
電界イオン顕微鏡法 (Field Ion Microscopy)
FIM
|
電界放射顕微鏡法 (Field Emission Microscopy)
FEM
|
電子エネルギー損失分光法 (Electron Energy Loss Spectroscopy)
EELS
|
電子スピン共鳴分析法 (Electron Spin Resonance), 電子常磁性共鳴分析法 (Electron Paramagnetic Resonance)
ESR, EPR
|
電子線後方散乱回折法 (Electron Backscatter Diffraction), 電子後方散乱パターン (Electron BackScattering Pattern)
EBSD, EBSP
|
電子線ホログラフィー法 (Electron Beam Holography, Electron Holography)
|
電子線励起電流法 (Electron Beam Induced Current)
EBIC
|
電子ビーム吸収電流法 (Electron Beam Absorbed Current Method)
EBAC
|
電子プローブ微小分析法 (Electron Probe Microanalysis)
EPMA
|
|
と |
透過型電子顕微鏡法 (Transmission Electron Microscope)
TEM
|
|
|
な |
ナノビーム電子回折法 (Nano Beam Electron Diffraction), ナノビーム回折法 (Nano Beam Diffraction)
NBED, NBD
|
ナノプローバ (Nano Prober)
NP
|
|
に |
二次イオン質量分析法 (Secondary-ion Mass Spectroscopy)
SIMS
|
|
|
ひ |
光音響分光法(Photoacoustic Spectrometry), フーリエ変換赤外光音響分光法(Fourier Transform Infrared Photoacoustic Spectrometry)
PAS, FTIR-PAS
|
飛行時間型二次イオン質量分析法 (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)
TOF-SIMS
|
拡がり抵抗測定法 (Spreading Resistance Analysis)
SRA
|
ふ |
光音響分光法(Photoacoustic Spectrometry), フーリエ変換赤外光音響分光法(Fourier Transform Infrared Photoacoustic Spectrometry)
PAS, FTIR-PAS
|
フーリエ変換赤外分光法 (Fourier Transform Infrared Spectroscopy)
FTIR
|
フォトルミネッセンス法 (Photoluminescence Spectroscopy)
PL
|
エリプソメトリ法 (Ellipsometry), 分光エリプソメトリ法 (Spectroscopic Ellipsometry)
EM, SE
|
|
|
み |
ミクロトーム (Microtome)
|
|
|
ゆ |
誘導結合プラズマ質量分析法 (Inductively Coupled Plasma-Mass Spectroscopy)
ICP-MS
|
誘導結合プラズマ発光分光分析法 (Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometry, Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometry)
ICP-OES, ICP-AES
|
誘導放出抑制顕微鏡 (Stimulated Emission Depletion Microscope)
STED
|
よ |
陽電子消滅法 (Positron Annihilation Spectroscopy)
PAS
|
|
|
ら |
ラザフォード後方散乱分析法 (Rutherford Backscattering Spectrometry) 中速イオン散乱分光法 (Medium Energy Ion Scattering Spectroscopy) (High-Resolution Rutherford Backscattering Spectrometry)
RBS, MEIS(HR-RBS)
|
ラマン分光法 (Raman Scattering Spectroscopy)
Raman
|
ラマン分光法(歪計測) (Raman Spectroscopy for strain measurements)
Raman
|
ら |
ローカライゼーション顕微鏡 (Super Localization Microscope)
PALM, STORM, GSD
|
|
|