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カテゴリー 分析手法 3次元アトムプローブ法 原子吸光分光分析法 オージェ電子分光法 角度分解オージェ電子分光法 エネルギー分散X線分光法 電子エネルギー損失分光法 電子プローブ微小分析法 フーリエ変換赤外分光法 ガスクロマトグラフ質量分析法 誘導結合プラズマ発光分光分析法 フォトルミネッセンス法 ラザフォード後方散乱分析法中速イオン散乱分光法 走査型電子顕微鏡 固体核磁気共鳴法 走査透過電子顕微鏡法 X線回折法 蛍光X線分析法
元素分析 元素マッピング
元素分析 組成分析
元素分析 元素分析
元素分析 不純物分析
元素分析 イオン分析
元素分析 分子分析
元素分析 粒子分析
元素分析 分子運動
元素分析 ガス脱離
形状観察 形状観察
形状観察 膜厚
形状観察 表面分析
形状観察 段差測定
形状観察 内部構造観察
結晶観察 結晶構造
結晶観察 結晶対称性
結晶観察 結晶性
結晶観察 格子定数
結晶観察 粒界観察
結晶観察 結晶欠陥
結晶観察 欠陥観察
結晶観察 転位密度
結晶観察 空孔分析
結晶観察 ダメージ
結晶観察 配向性
結晶観察 結晶方位
結晶観察 密度
結晶観察
結晶観察 応力
電気特性評価 PNジャンクション位置
電気特性評価 空乏層
電気特性評価 抵抗率分布
電気特性評価 キャリア分析
電気特性評価 ホットキャリアの位置
電気特性評価 ポテンシャル
電気特性評価 不良位置特定
電気特性評価 配線欠陥
電気特性評価 閾値電圧
電気特性評価 電気特性
物質特性評価 光学定数
物質特性評価 バンド構造
物質特性評価 仕事関数
物質特性評価 化学結合
物質特性評価 電子状態
物質特性評価 発光準位
物質特性評価 発光箇所
物質特性評価 再結合中心準位
物質特性評価 励起子情報
物質特性評価 スピン